IC測試座主要就是用於檢查在線的單個IC元器件以及各電路網絡的開、短路情況，俗稱導通測試，以及模擬器件作用和數字器件邏輯作用測試。

測試期間在惡劣的環(huán)境條件下能完全實現設計規(guī)格書所規(guī)定的作用及性能指標。是對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產制造缺陷及元器件不良的一種標準測試設備。

芯片測試座
芯片socket測試座采用手動翻蓋式結構、自動化下壓式結構、雙扣式壓合結構，操作方便；翻蓋的上蓋IC壓板采用彈壓式結構，能自動調節(jié)下壓力，保證IC的壓力均勻。

測試座探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或導向孔，保證IC定位精確，生產效率高探針可更換，維修方便，成本低。